IC testēšanas skava, droša mikroshēmu apstrāde, saderīga ar SOIC, TSSOP, TSOP, SSOP, MSOP, PLCC, QFP, TQFP, LQFP un SMD; izgatavota no ABS materiāla. Piemērošanas joma: elektrotehnika ANEB0GX2B6PSKT
Profesionālās iekārtas > Elektrības testeri un mērītāji